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68通道，2 A PXI信号插入开关模块—PXI‑2510故障植入单元(FIU)专为硬件在环(HILL)应用和电子可靠性测试而设计。 每个模块都有一组馈通通道，可断开或短接一个或多个故障总线。 该架构可用来模拟开路或中断连接以及引脚间短路、电池电压短路和每个通道接地短路。 结合LabVIEW Real‑Time模块进行控制时，PXI‑2510是验证控制系统完整性的理想选择，包括发动机控制单元(ECU)和全权限数字发动机控制(FADEC)。
“NI的核心是致力于赋能工程师人群，是他们在为我们解决今天、明天乃至下一个百年的问题。”NI首席营销官Carla Piñeyro Sublett表示：“我们的客户正在这个世界留下他们的印记，他们灿烂的功绩激励着我们所有人，他们创新的壮举将对整个星球甚至更广阔的领域产生影响。我们全新的品牌形象融入他们的故事，铭刻他们非凡的工程创造力，并致敬他们对整个社会的贡献。”40多年以来，NI与众多的工程师和企业携手，用测试测量技术共同解决全球紧迫的挑战。从数据和自动化到研究和验证，NI软件互联的方法正在帮助客户更快速、更可靠、更安全地测试创新的想法。NI多年积累的丰富的软件结合新的云计算和机器学习，正在推动测试测量行业整体的现代化，帮助客户快速构建下一代产品。
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