ABB GFD212A 模块控制器 验证效率将直接影响芯片的性能指标与设计周期

现代集成电路(Integrated Circut,IC)的快速发展使得片上系统(System on Chip,SoC)设计层次和系统复杂度日益攀升,而设计层次和系统复杂度的提高则大大增加了验证环节的工作量验证环节占据了SoC设计工作约50%~ 80%的时间和资源。验证效率将直接影响芯片的性能指标与设计周期，找到一种先进有效的验证方法成为SoC芯片设计成功的关键。通用验证方法学(Universal Verification Methodologhy,UVM)继承了验证方法学手册(Verification MethodologyManual,VMM)和开源验证方法学(Open Verification Methodology,OVM)的优点克服两者缺点,是目前具有好兼容性和先进工作机制的验证方法学,代表了验证方法学的发展方向。

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